Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
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https://hal.science/hal-01765955
Soumis le : vendredi 13 avril 2018-11:23:53
Dernière modification le : mardi 12 août 2025-15:22:42
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01765955 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2017.07.013
Citer
Niemat Moultif, Eric Joubert, Mohamed Lamine Masmoudi, O. Latry. Characterization of HTRB stress effects on SiC MOSFETs using photon emission spectral signatures. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.243 - 248. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.013⟩. ⟨hal-01765955⟩
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