Characterization of ESD stress effects on SiC MOSFETs using photon emission spectral signatures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Characterization of ESD stress effects on SiC MOSFETs using photon emission spectral signatures

Niemat Moultif
Eric Joubert
Mohamed Lamine Masmoudi
O. Latry
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01765953 , version 1 (13-04-2018)

Identifiants

Citer

Niemat Moultif, Eric Joubert, Mohamed Lamine Masmoudi, O. Latry. Characterization of ESD stress effects on SiC MOSFETs using photon emission spectral signatures. 2017 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Jan 2017, Orlando, France. ⟨10.1109/ram.2017.7889732⟩. ⟨hal-01765953⟩
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