Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01765953
Soumis le : vendredi 13 avril 2018-11:23:35
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
Niemat Moultif, Eric Joubert, Mohamed Lamine Masmoudi, O. Latry. Characterization of ESD stress effects on SiC MOSFETs using photon emission spectral signatures. 2017 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Jan 2017, Orlando, France. ⟨10.1109/ram.2017.7889732⟩. ⟨hal-01765953⟩
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