Analysis of transient electric-field emitted by atom-probe tomography electrode - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Analysis of transient electric-field emitted by atom-probe tomography electrode

Z. Xu
  • Fonction : Auteur
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
Y. Liu
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 4334
  • IdHAL : yi-liu
CV
B. Ravelo
  • Fonction : Auteur
O. Maurice
  • Fonction : Auteur
L. Zhao
  • Fonction : Auteur
F. Vurpillot
Groupe de physique des matériaux
CV

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Etienne Talbot  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01765924

Soumis le : vendredi 13 avril 2018-11:12:01

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01765924 , version 1 (13-04-2018)

Identifiants

Citer

Z. Xu, Y. Liu, B. Ravelo, O. Maurice, L. Zhao, et al.. Analysis of transient electric-field emitted by atom-probe tomography electrode. 2017 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC EUROPE), Sep 2017, Angers, France. ⟨10.1109/emceurope.2017.8094618⟩. ⟨hal-01765924⟩

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