Strain imaging of processed layers and devices by dark field electron holography - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01763638 , version 1 (11-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01763638 , version 1

Citer

Alain Claverie, Victor Boureau, Martin Hÿtch, Nikolay Cherkashin. Strain imaging of processed layers and devices by dark field electron holography. Congress of the Electron Microscopy Society of India, Jul 2014, ??, India. ⟨hal-01763638⟩
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