A novel test structure for OxRRAM process variability evaluation - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2013

A novel test structure for OxRRAM process variability evaluation

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Sciences de l'ingénieur [physics]

Mathieu Moreau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01745650

Soumis le : mercredi 28 mars 2018-14:17:06

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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Dates et versions

hal-01745650 , version 1 (28-03-2018)

Identifiants

Citer

Hassen Aziza, Marc Bocquet, Jean-Michel Portal, Mathieu Moreau, Christophe Muller. A novel test structure for OxRRAM process variability evaluation. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1208 - 1212. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.012⟩. ⟨hal-01745650⟩

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