A novel test structure for OxRRAM process variability evaluation - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2013

Dates et versions

hal-01745650 , version 1 (28-03-2018)

Identifiants

Citer

Hassen Aziza, Marc Bocquet, Jean-Michel Portal, Mathieu Moreau, Christophe Muller. A novel test structure for OxRRAM process variability evaluation. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1208 - 1212. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.012⟩. ⟨hal-01745650⟩
70 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More