Low kV High Resolution Scanning Electron Microscopy Study of Si Nanowire Surfaces - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2015

Dates et versions

hal-01738052 , version 1 (20-03-2018)

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Citer

Claude Alfonso, L. Roussel, A. Charai, C. Dominici, A. Campos, et al.. Low kV High Resolution Scanning Electron Microscopy Study of Si Nanowire Surfaces. Microscopy and Microanalysis, 2015, 21 (S3), pp.1261 - 1262. ⟨10.1017/S1431927615007096⟩. ⟨hal-01738052⟩
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