Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2015
Claude ALFONSO : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01738052
Soumis le : mardi 20 mars 2018-10:48:02
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
Claude Alfonso, L. Roussel, A. Charai, C. Dominici, A. Campos, et al.. Low kV High Resolution Scanning Electron Microscopy Study of Si Nanowire Surfaces. Microscopy and Microanalysis, 2015, 21 (S3), pp.1261 - 1262. ⟨10.1017/S1431927615007096⟩. ⟨hal-01738052⟩
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