Application de la tomographie à rayons X à la caractérisation de la microstructure et des mécanismes d'endommagement d'un alliage AlSi7Cu3
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Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
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https://hal.science/hal-01736338
Soumis le : lundi 16 août 2021-10:54:22
Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:53:18
Archivage à long terme le : mercredi 17 novembre 2021-18:25:21
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01736338 , version 1
Citer
Long Wang, Nora Dahdah, Nathalie Limodin, Ahmed El Bartali, Jean-Francois Witz, et al.. Application de la tomographie à rayons X à la caractérisation de la microstructure et des mécanismes d'endommagement d'un alliage AlSi7Cu3. XIIe Colloque Rayons X et Matière, Nov 2017, Lille, France. pp.91. ⟨hal-01736338⟩
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