Application of X-ray microtomography to study the influence of the casting microstructure upon the tensile behaviour of an Al-Si alloy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Application of X-ray microtomography to study the influence of the casting microstructure upon the tensile behaviour of an Al-Si alloy

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hal-01736294 , version 1 (30-12-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01736294 , version 1

Citer

Nathalie Limodin, Ahmed El Bartali, Long Wang, J. Lachambre, Eric Charkaluk. Application of X-ray microtomography to study the influence of the casting microstructure upon the tensile behaviour of an Al-Si alloy. 1st international conference on tomography of materials and structures; ICTMS 2013, Jul 2013, Ghent, Belgium. ⟨hal-01736294⟩
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