A New Method for the Characterization of Electronic Components Immunity - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Année : 2015

A New Method for the Characterization of Electronic Components Immunity

Tristan Dubois
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Ala Ayed
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Jean-Luc Levant
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 861662
ATMEL-NANTES
Geneviève Duchamp
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Electronique Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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Soumis le : mercredi 7 mars 2018-09:56:03

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hal-01725100 , version 1 (07-03-2018)

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Citer

Tristan Dubois, Ala Ayed, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp. A New Method for the Characterization of Electronic Components Immunity. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2015, 64 (9), pp.2496 - 2503. ⟨10.1109/TIM.2015.2412014⟩. ⟨hal-01725100⟩

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