Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility Année : 2015

Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique

Ala Ayed
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Tristan Dubois
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Jean-Luc Levant
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 861662
ATMEL-NANTES
Geneviève Duchamp
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Electronique

Tristan Dubois  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01725099

Soumis le : mercredi 7 mars 2018-09:54:41

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-01725099 , version 1 (07-03-2018)

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Citer

Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp. Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2015, 57 (5), pp.955 - 962. ⟨10.1109/TEMC.2015.2422140⟩. ⟨hal-01725099⟩

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