Article Dans Une Revue
Journal of Intelligent Manufacturing
Année : 2018
Zineb Simeu-Abazi : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01724054
Soumis le : mardi 6 mars 2018-09:01:42
Dernière modification le : lundi 13 mai 2024-08:48:47
Citer
Daoud Ait-Kadi, Zineb Simeu-Abazi, Ahmed Arous. Fault isolation by test scheduling for embedded systems using a probabilistic approach. Journal of Intelligent Manufacturing, 2018, 29 (3), pp.641 - 649. ⟨10.1007/s10845-015-1088-7⟩. ⟨hal-01724054⟩
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