Article Dans Une Revue
IEE Proceedings - Circuits, Devices and Systems
Année : 1998
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01721401
Soumis le : vendredi 2 mars 2018-09:50:03
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
S. Ogg, S. Lesage, B.W. Jervis, Y. Maidon, T. Zimmer. Multiple fault diagnosis in analogue circuits using time domain response features and multilayer perceptrons. IEE Proceedings - Circuits, Devices and Systems, 1998, 145 (4), ⟨10.1049/ip-cds:19982119⟩. ⟨hal-01721401⟩
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