Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes

Pamela del Vecchio
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 966670
3S Photonics
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Arnaud Curutchet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 853090
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Yannick Deshayes
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841114
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Simon Joly
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 18035
  • IdHAL : simonjoly
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Mauro Bettiati
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 956304
3S Photonics
François Laruelle
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 956305
3S Photonics
Laurent Bechou
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 956306
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Optique / photonique

Simon Joly  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01721054

Soumis le : jeudi 1 mars 2018-16:43:15

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01721054 , version 1 (01-03-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01721054 , version 1

Citer

Pamela del Vecchio, Arnaud Curutchet, Yannick Deshayes, Simon Joly, Mauro Bettiati, et al.. Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes. CLEO/EUROPE, Mar 2015, Munich, Germany. ⟨hal-01721054⟩

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