Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
Arnaud Curutchet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01718753
Soumis le : mardi 27 février 2018-16:11:56
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01718753 , version 1
Citer
Mehdi Rzin, Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Laurent Brunel, Benoit Lambert, et al.. Investigation of the dynamic on-state resistance of AlGaN/GaN HEMTs. Microelectronics Reliability, 2015. ⟨hal-01718753⟩
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