Micro-PL and DOP characterization of Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSEL) for emission at 850 nm with Al oxide confinement layers - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Micro-PL and DOP characterization of Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSEL) for emission at 850 nm with Al oxide confinement layers

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Optique / photonique

Christophe Levallois  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01711100

Soumis le : vendredi 16 février 2018-17:27:47

Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-10:16:17

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Dates et versions

hal-01711100 , version 1 (16-02-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01711100 , version 1

Citer

Merwan Mokhtari, Philippe Pagnod-Rossiaux, François Laruelle, Jean-Pierre Landesman, Alain Moréac, et al.. Micro-PL and DOP characterization of Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSEL) for emission at 850 nm with Al oxide confinement layers. 17th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVII), Oct 2017, Valladolid, Spain. ⟨hal-01711100⟩

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