Mechanical properties of SiC nanowires determined by scanning electron and field emission microscopies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01701887 , version 1 (06-02-2018)

Identifiants

Citer

S. Perisanu, V. Gouttenoire, P. Vincent, A. Ayari, M. Choueib, et al.. Mechanical properties of SiC nanowires determined by scanning electron and field emission microscopies. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2008, 77 (16), ⟨10.1103/PhysRevB.77.165434⟩. ⟨hal-01701887⟩
67 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More