Measurement of the size of embedded metal clusters by mass spectrometry, transmission electron microscopy, and small-angle X-ray scattering - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied physics. A, Materials science & processing Année : 2007

Measurement of the size of embedded metal clusters by mass spectrometry, transmission electron microscopy, and small-angle X-ray scattering

Luc Favre
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
CV
C. Hendrich
  • Fonction : Auteur
D.N. Ievlev
  • Fonction : Auteur
A.N. Dobrynin
  • Fonction : Auteur
W. Bras
  • Fonction : Auteur
European Synchrotron Radiation Facility
U. Hörmann
  • Fonction : Auteur
E. Piscopiello
  • Fonction : Auteur
G. van Tendeloo
  • Fonction : Auteur
Electron Microscopy for Material Resaerch (EMAT)
P. Lievens
  • Fonction : Auteur
Laboratory of Solid State Physics and Magnetism and INPAC
K. Temst
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Luc FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01700834

Soumis le : lundi 5 février 2018-12:28:08

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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Dates et versions

hal-01700834 , version 1 (05-02-2018)

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Citer

Luc Favre, C. Hendrich, D.N. Ievlev, A.N. Dobrynin, W. Bras, et al.. Measurement of the size of embedded metal clusters by mass spectrometry, transmission electron microscopy, and small-angle X-ray scattering. Applied physics. A, Materials science & processing, 2007, 86 (4), pp.533 - 538. ⟨10.1007/s00339-006-3808-5⟩. ⟨hal-01700834⟩

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