Thermal measurement of losses of GaN power transistors for optimization of their drive - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01700482 , version 1 (04-02-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01700482 , version 1

Citer

Lionel Hoffmann, Cyrille Gautier, Stéphane Lefebvre, François Costa. Thermal measurement of losses of GaN power transistors for optimization of their drive. Power Electronics and Applications (EPE), 2013, Lille, France. ⟨hal-01700482⟩
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