Poster De Conférence
Année : 2016
Tien Anh Nguyen : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01696225
Soumis le : mardi 30 janvier 2018-11:21:29
Dernière modification le : vendredi 19 juillet 2024-11:38:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01696225 , version 1
Citer
Tien Anh Nguyen, Echeverri Andres, Mbarek Safa, Niemat Moultif, Pascal Dherbécourt, et al.. Analyse par électroluminescence des dégradations de transistor MOSFET en SiC. Symposium de Génie Electrique 2016 - SGE2016, Jun 2016, Grenoble, France. ⟨hal-01696225⟩
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