Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2017

Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit

C. Mukherjee
  • Fonction : Auteur
T. Jacquet
  • Fonction : Auteur
A. Chakravorty
  • Fonction : Auteur
J. Boeck
  • Fonction : Auteur
K. Aufinger
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01695265 , version 1 (29-01-2018)

Identifiants

Citer

C. Mukherjee, T. Jacquet, A. Chakravorty, T. Zimmer, J. Boeck, et al.. Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit. Microelectronics Reliability, 2017, 73, pp.146 - 152. ⟨10.1016/j.microrel.2017.05.001⟩. ⟨hal-01695265⟩
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