Ilo\'sciowa analiza porowato\'sci materia\lu sypkiego z zastosowaniem systemu tomografii promieniowania X
Résumé
no abstract
Jérôme ADRIEN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
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Soumis le : mercredi 20 décembre 2017-12:55:21
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:06