Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015

Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests

Eric Woirgard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 853176
Fiabilité / Puissance
Faical Arabi
  • Fonction : Auteur
Fiabilité / Puissance
Wissam Sabbah
  • Fonction : Auteur
Fiabilité / Puissance
Donatien Martineau
SAFRAN Group
Loic Theolier
Fiabilité / Puissance
Stéphane Azzopardi
  • Fonction : Auteur
Fiabilité / Puissance

Domaines

Energie électrique

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https://hal.science/hal-01662947

Soumis le : mercredi 13 décembre 2017-15:43:11

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-01662947 , version 1 (13-12-2017)

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Citer

Eric Woirgard, Faical Arabi, Wissam Sabbah, Donatien Martineau, Loic Theolier, et al.. Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1961 - 1965. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.048⟩. ⟨hal-01662947⟩

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