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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015

Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests

Eric Woirgard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 853176
Donatien Martineau
Loic Theolier
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01662947 , version 1 (13-12-2017)

Identifiants

Citer

Eric Woirgard, Faical Arabi, Wissam Sabbah, Donatien Martineau, Loic Theolier, et al.. Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1961 - 1965. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.048⟩. ⟨hal-01662947⟩
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