Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2016
Loic Theolier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01662946
Soumis le : mercredi 13 décembre 2017-15:42:33
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01662946 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2016.07.028
Citer
Faical Arabi, Loic Theolier, Donatien Martineau, J.-Y. Delétage, Mathieu Médina, et al.. Power electronic assemblies: Thermo-mechanical degradations of gold-tin solder for attaching devices. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.409 - 414. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.028⟩. ⟨hal-01662946⟩
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