Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2016
François Marc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01661820
Soumis le : mardi 12 décembre 2017-11:44:03
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01661820 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2016.07.048
Citer
Mohammad Naouss, F. Marc. FPGA LUT delay degradation due to HCI: Experiment and simulation results. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.31 - 35. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.048⟩. ⟨hal-01661820⟩
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