Near-field scan tools for embedded electronic analysis

Tristan Dubois; Geneviève Duchamp; Julien Weckbrodt; Stephane Azzopardi

doi:10.1109/PanPacific.2016.7428410

Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Near-field scan tools for embedded electronic analysis

(1) , (1) , , (1)

1

Tristan Dubois

Fonction : Auteur
PersonId : 737763
IdHAL : tristan-dubois
ORCID : 0000-0002-2495-2976
IdRef : 139527613

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Geneviève Duchamp

Fonction : Auteur
PersonId : 18021
IdHAL : genevieve-duchamp
ORCID : 0000-0003-4717-6508
IdRef : 033689849

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Julien Weckbrodt

Fonction : Auteur

Stephane Azzopardi

Fonction : Auteur
PersonId : 841232

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Electronique

Tristan Dubois : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01659420

Soumis le : vendredi 8 décembre 2017-13:50:44

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Dates et versions

hal-01659420 , version 1 (08-12-2017)

Identifiants

HAL Id : hal-01659420 , version 1
DOI : 10.1109/PanPacific.2016.7428410

Citer

Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Julien Weckbrodt, Stephane Azzopardi. Near-field scan tools for embedded electronic analysis. Pan Pacific Microelectronics Symposium (Pan Pacific), 2016, Jan 2016, Big Island, United States. ⟨10.1109/PanPacific.2016.7428410⟩. ⟨hal-01659420⟩

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