Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2016
Olivier Briat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01657455
Soumis le : mercredi 6 décembre 2017-17:01:48
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01657455 , version 1
Citer
Issam Baghdadi, Olivier Briat, Jean-Yves Delétage, Philippe Gyan, Jean-Michel Vinassa. Chemical rate phenomenon approach applied to lithium battery capacity fade estimation. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.134-139. ⟨hal-01657455⟩
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