Fiabilité des composants enfouis dans un circuit électronique dans le secteur de l’automobile - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Fiabilité des composants enfouis dans un circuit électronique dans le secteur de l’automobile

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Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01655291

Soumis le : lundi 4 décembre 2017-17:29:36

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01655291 , version 1 (04-12-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01655291 , version 1

Citer

Mickaël Balmont, Isabelle Bord Majek, Yves Ousten. Fiabilité des composants enfouis dans un circuit électronique dans le secteur de l’automobile . XXèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Nov 2017, Strasbourg, France. pp.4.3. ⟨hal-01655291⟩

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