PWM power cycling test for IGBT modules operating at ambient temperature - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

PWM power cycling test for IGBT modules operating at ambient temperature

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Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Bertrand BOUDART  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01653101

Soumis le : vendredi 1 décembre 2017-09:16:42

Dernière modification le : mardi 12 mars 2024-14:56:03

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Dates et versions

hal-01653101 , version 1 (01-12-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01653101 , version 1

Citer

Mohamed Tounsi, Amrane Oukaour, Boubekeur Tala-Ighil, B. Pouderoux, B. Boudart, et al.. PWM power cycling test for IGBT modules operating at ambient temperature. 4th International Conference on Accelerated Life Testing and Degradation Models: Industry, Medicine, and Social Science, 2012, Rennes, France. ⟨hal-01653101⟩

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