Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Bertrand BOUDART  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01647861

Soumis le : vendredi 24 novembre 2017-16:04:52

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-01647861 , version 1 (24-11-2017)

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Citer

H. Toutah, B. Tala-Ighil, Jean-François Llibre, B. Boudart, T. Mohammed-Brahim, et al.. Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material. Microelectronics Reliability, 2003, 43 (9-11), pp.1531 - 1535. ⟨10.1016/S0026-2714(03)00271-3⟩. ⟨hal-01647861⟩

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