Analysis of Commercial Punch-Through IGBTs Behavior Under $^{60}$Co Irradiation: Turn-Off Switching Performances Evolution - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2012

Analysis of Commercial Punch-Through IGBTs Behavior Under $^{60}$Co Irradiation: Turn-Off Switching Performances Evolution

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Bertrand BOUDART  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01647617

Soumis le : vendredi 24 novembre 2017-14:25:15

Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01647617 , version 1 (24-11-2017)

Identifiants

Citer

B. Tala-Ighil, A. Oukaour, H. Gualous, B. Boudart, B. Pouderoux, et al.. Analysis of Commercial Punch-Through IGBTs Behavior Under $^{60}$Co Irradiation: Turn-Off Switching Performances Evolution. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2012, 59 (6), pp.3235 - 3243. ⟨10.1109/TNS.2012.2216289⟩. ⟨hal-01647617⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

COMUE-NORMANDIE UNICAEN LUSAC
44 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More