Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2012
Bertrand BOUDART : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01647617
Soumis le : vendredi 24 novembre 2017-14:25:15
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53
Citer
B. Tala-Ighil, A. Oukaour, H. Gualous, B. Boudart, B. Pouderoux, et al.. Analysis of Commercial Punch-Through IGBTs Behavior Under $^{60}$Co Irradiation: Turn-Off Switching Performances Evolution. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2012, 59 (6), pp.3235 - 3243. ⟨10.1109/TNS.2012.2216289⟩. ⟨hal-01647617⟩
Collections
36
Consultations
0
Téléchargements