Analysis of Commercial Punch-Through IGBTs Behavior Under $^{60}$Co Irradiation: Turn-Off Switching Performances Evolution - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2012
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Dates et versions

hal-01647617 , version 1 (24-11-2017)

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Citer

B. Tala-Ighil, A. Oukaour, H. Gualous, B. Boudart, B. Pouderoux, et al.. Analysis of Commercial Punch-Through IGBTs Behavior Under $^{60}$Co Irradiation: Turn-Off Switching Performances Evolution. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2012, 59 (6), pp.3235 - 3243. ⟨10.1109/TNS.2012.2216289⟩. ⟨hal-01647617⟩
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