Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2017
Bertrand BOUDART : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01645121
Soumis le : mercredi 22 novembre 2017-20:21:13
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Citer
Sébastien Petitdidier, Yannick Guhel, Guillaume Brocero, Philippe Eudeline, Jean-Lionel Trolet, et al.. Influence of neutron irradiation on electron traps induced by NGB stress in AlInN/GaN HEMTs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2017, pp.1 - 1. ⟨10.1109/TNS.2017.2708692⟩. ⟨hal-01645121⟩
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