Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
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https://hal.science/hal-01639744
Soumis le : lundi 20 novembre 2017-15:33:07
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:27:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01639744 , version 1
Citer
Balanethiram Suresh, Chakravorty Anjan, d'Esposito Rosario, Fregonese Sebastien, Zimmer Thomas. Extracting the FEOL and BEOL components of thermal resistance in SiGe HBTs. Emerging Electronics (ICEE),2016 3rd International Conference on, Oct 2017, Munbai, India. ⟨hal-01639744⟩
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