A calculation method to estimate single event upset cross section - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2017

A calculation method to estimate single event upset cross section

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01636059 , version 1 (16-11-2017)

Identifiants

Citer

Frédéric Wrobel, Antoine Touboul, Vincent Pouget, Luigi Dilillo, Jérôme Boch, et al.. A calculation method to estimate single event upset cross section. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.644-649. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.056⟩. ⟨hal-01636059⟩
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