On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive Operating Area Determination - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2014

On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive Operating Area Determination

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01635347 , version 1 (15-11-2017)

Identifiants

Citer

A. Privat, Antoine Touboul, A. Michez, S. Bourdarie, J.-R. Vaillé, et al.. On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive Operating Area Determination. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, 61 (6), pp.2930 - 2935. ⟨10.1109/TNS.2014.2365041⟩. ⟨hal-01635347⟩
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