Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2013
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https://hal.science/hal-01634036
Soumis le : lundi 13 novembre 2017-16:16:27
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53
Citer
A. Kaouache, Frédéric Wrobel, F. Saigné, Antoine Touboul, R. D. Schrimpf. Analytical Method to Evaluate Soft Error Rate Due to Alpha Contamination. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2013, 60 (6), pp.4059 - 4066. ⟨10.1109/TNS.2013.2285401⟩. ⟨hal-01634036⟩
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