Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Industrial Electronics
Année : 2013
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https://hal.science/hal-01629235
Soumis le : lundi 6 novembre 2017-11:08:46
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:23
Citer
Vanessa Smet, François Forest, Jean-Jacques Huselstein, Amgad Rashed, Frédéric Richardeau. Evaluation of Vce Monitoring as a Real-Time Method to Estimate Aging of Bond Wire-IGBT Modules Stressed by Power Cycling. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2013, 60 (7), pp.2760 - 2770. ⟨10.1109/TIE.2012.2196894⟩. ⟨hal-01629235⟩
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