Automatic Generation Of Self Testing ROM - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1997

Automatic Generation Of Self Testing ROM

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01627800 , version 1 (02-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01627800 , version 1

Citer

El Housseine Rejouan, Habib Mehrez. Automatic Generation Of Self Testing ROM. 4th Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES'1997), Jun 1997, Poznan, Poland. pp.1-5. ⟨hal-01627800⟩
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