Analysis of X-Ray Photo-Charge Induced Speckles in a Radiation Hardened CMOS Image Sensor - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2017

Analysis of X-Ray Photo-Charge Induced Speckles in a Radiation Hardened CMOS Image Sensor

Timothé Allanche
Laboratoire Hubert Curien
Vincent Goiffon
  • Fonction : Auteur
Département Electronique, Optronique et Signal
Serena Rizzolo
Département Electronique, Optronique et Signal
Philippe Paillet
DAM Île-de-France
Aziouz Chabane
  • Fonction : Auteur
Département Electronique, Optronique et Signal
Olivier Duhamel
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1057943
DAM Île-de-France
Cyprien Muller
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1398185
  • IdRef : 279237421
Laboratoire Hubert Curien
Pierre Magnan
  • Fonction : Auteur
Département Electronique, Optronique et Signal
Raphael Clerc
Laboratoire Hubert Curien
Emmanuel Marin
Laboratoire Hubert Curien
Aziz Boukenter
Laboratoire Hubert Curien
Youcef Ouerdane
Laboratoire Hubert Curien
Sylvain Girard
Laboratoire Hubert Curien
CV

Domaines

Optique / photonique

Sylvain Girard  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01621096

Soumis le : dimanche 22 octobre 2017-22:01:46

Dernière modification le : lundi 16 septembre 2024-09:07:33

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01621096 , version 1 (22-10-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01621096 , version 1

Citer

Timothé Allanche, Vincent Goiffon, Serena Rizzolo, Philippe Paillet, Aziouz Chabane, et al.. Analysis of X-Ray Photo-Charge Induced Speckles in a Radiation Hardened CMOS Image Sensor. RADECS 2017 : Radiation and Its Effects on Components and Systems, Oct 2017, Genève, Switzerland. ⟨hal-01621096⟩

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