Article Dans Une Revue
Advanced Engineering Materials
Année : 2008
Olivier RAPAUD : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01620679
Soumis le : vendredi 20 octobre 2017-19:18:46
Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-14:04:02
Citer
Z. g. Zhang, O. Rapaud, N. Bonasso, D. Mercs, C. Dong, et al.. Influence of RF Bias on the Deposition of CrN Studied by OES. Advanced Engineering Materials, 2008, 10 (7), pp.628 - 633. ⟨10.1002/adem.200800053⟩. ⟨hal-01620679⟩
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