Rapid Tomography in Environmental TEM: How Fast Can We Go to Follow the 3D Evolution of Nanomaterials in situ? - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2016

Rapid Tomography in Environmental TEM: How Fast Can We Go to Follow the 3D Evolution of Nanomaterials in situ?

Lucian Roiban
Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Sid Koneti
  • Fonction : Auteur
Khan Tran
  • Fonction : Auteur
Yue-Meng Feng
Thomas Grenier
Images et Modèles
CV
Voichita Maxim
Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse
CV
Thierry Epicier
Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne]
CV

Domaines

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https://hal.science/hal-01612810

Soumis le : dimanche 8 octobre 2017-15:30:34

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-18:15:22

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Dates et versions

hal-01612810 , version 1 (08-10-2017)

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Citer

Lucian Roiban, Sid Koneti, Khan Tran, Yue-Meng Feng, Thomas Grenier, et al.. Rapid Tomography in Environmental TEM: How Fast Can We Go to Follow the 3D Evolution of Nanomaterials in situ?. Microscopy and Microanalysis, 2016, 22 (S5), pp.8 - 9. ⟨10.1017/S143192761601206X⟩. ⟨hal-01612810⟩

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