Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
Frédéric De Geuser : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01611557
Soumis le : vendredi 6 octobre 2017-09:53:18
Dernière modification le : mercredi 10 juillet 2024-16:10:15
Citer
Frédéric de Geuser, Baptiste Gault. Reflections on the Projection of Ions in Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (02), pp.238 - 246. ⟨10.1017/S1431927616012721⟩. ⟨hal-01611557⟩
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