Reflections on the Projection of Ions in Atom Probe Tomography

Frédéric de Geuser; Baptiste Gault

doi:10.1017/S1431927616012721

Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2017

Reflections on the Projection of Ions in Atom Probe Tomography

(1) ,

1

Frédéric de Geuser

Fonction : Auteur
PersonId : 7107
IdHAL : frederic-de-geuser
ORCID : 0000-0002-2974-9432
IdRef : 098447432

Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés

CV

Baptiste Gault

Fonction : Auteur
PersonId : 1076009

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Matériaux

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Dates et versions

hal-01611557 , version 1 (15-11-2024)

Identifiants

HAL Id : hal-01611557 , version 1
DOI : 10.1017/S1431927616012721

Citer

Frédéric de Geuser, Baptiste Gault. Reflections on the Projection of Ions in Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (02), pp.238 - 246. ⟨10.1017/S1431927616012721⟩. ⟨hal-01611557⟩

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