Caractérisation des mécanismes d'endommagement des tubes CVI-SiC/SiC par tomographie X - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Characterization of damage mechanisms in CVI-SiC/SiC composite tubes by X-ray tomography

Caractérisation des mécanismes d'endommagement des tubes CVI-SiC/SiC par tomographie X

Résumé

SiC/SiC composite tubes are studied as materials for nuclear fuel cladding. A thorough understanding on the mechanisms of damage to this material requires both an experimental and a numerical study. In situ tensile tests were performed under X-ray tomography at the SOLEIL synchrotron. Post processing methods have been developed to analyze the microstructure, measure the deformation and characterize qualitatively and quantitatively the damage mechanisms inside the material. The tomographic images provide 3D descriptions on the microstructure, which are direct input data for the numerical simulation based on FFT. The use of real microstructures makes it possible to combine the simulation results directly with the experimental observations.
Les tubes composites SiC/SiC sont étudiés comme des matériaux pour le gainage du combustible nucléaire. La compréhension exhaustive des mécanismes d'endommagement de ce matériau nécessite une étude volumique à la fois expérimentale et numérique. Des essais de traction in situ ont été effectués sous la tomographie de rayon X au synchrotron SOLEIL. Des outils de dépouillement ont été mis en place afin d'analyser la microstructure, de mesurer la déformation et de caractériser les mécanismes d'endommagement à l'intérieur du matériau de façon qualitative et quantitative. Les images tomographiques fournissent des descriptions 3D sur la microstructure, qui sont les données d'entrées directes pour la simulation numérique basée sur la méthode FFT. L'utilisation des microstructures réelles permet de combiner directement les résultats de simulation avec les observations expérimentales.
Fichier principal
Vignette du fichier
JNC20_CHEN_Article_lg.pdf (1.04 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Loading...

Dates et versions

hal-01598516 , version 1 (29-09-2017)

Identifiants

Citer

Yang Chen, Lionel Gélébart, Camille Chateau, Michel Bornert, Andrew D. King, et al.. Caractérisation des mécanismes d'endommagement des tubes CVI-SiC/SiC par tomographie X . Journées Nationales sur les Composites, École des Ponts ParisTech (ENPC), Jun 2017, Paris, France. ⟨hal-01598516⟩
390 Consultations
137 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More