X-ray absorption K edge as a diagnostic of the electronic temperature in warm dense aluminum - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2015

X-ray absorption K edge as a diagnostic of the electronic temperature in warm dense aluminum

Résumé

no abstract
Fichier principal
Vignette du fichier
dorchies2015.pdf (315.69 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte

Dates et versions

hal-01561833 , version 1 (07-10-2023)

Identifiants

Citer

F. Dorchies, F. Festa, V. Recoules, O. Peyrusse, A. Benuzzi-Mounaix, et al.. X-ray absorption K edge as a diagnostic of the electronic temperature in warm dense aluminum. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2015, 92 (8), ⟨10.1103/PhysRevB.92.085117⟩. ⟨hal-01561833⟩
138 Consultations
30 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More