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Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Evaluation de la fiabilité d'une Technologie SiGe 0,25µm pour applications spatiales

Résumé

Cet article présente une évaluation de la fiabilité de la technologie SiGe SGB25 de la fonderie européenne IHP. Nous proposons ici une méthodologie permettant d'adresser les exigences liées aux contraintes spatiales. Pour cela des véhicules de test spécifiques ont été conçus. Ces véhicules de test seront ensuite introduits dans différentes files d'essais de vieillissement dont le but est de définir une aire de sécurité de fonctionnement en termes de contraintes électriques statiques et dynamiques. Nous attacherons une attention toute particulière à l'influence des modes de dégradation sur les performances en bruit.
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Dates et versions

hal-01542541 , version 1 (19-06-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01542541 , version 1

Citer

Charles Robin, Stéphane Rochette, Simon Desgrez, Jean Luc Muraro, Dominique Langrez, et al.. Evaluation de la fiabilité d'une Technologie SiGe 0,25µm pour applications spatiales. Journées Nationales Micro-ondes, May 2017, Saint-Malo, France. ⟨hal-01542541⟩
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