Resolution effect on the study of ductile damage using synchrotron X-ray tomography - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 2012

Resolution effect on the study of ductile damage using synchrotron X-ray tomography

C Landron
  • Fonction : Auteur
M Di Michiel
  • Fonction : Auteur
P Cloetens
  • Fonction : Auteur
H Suhonen
  • Fonction : Auteur
O. Bouaziz

Résumé

no abstract

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01538048 , version 1 (13-06-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01538048 , version 1

Citer

C Landron, E Maire, J Adrien, M Di Michiel, P Cloetens, et al.. Resolution effect on the study of ductile damage using synchrotron X-ray tomography. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2012, 284, pp.15--18. ⟨hal-01538048⟩
56 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More