X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue EPJ Web of Conferences Année : 2010

X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection

Domaines

Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

Christophe Le Bourlot  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01537638

Soumis le : lundi 12 juin 2017-17:07:27

Dernière modification le : jeudi 28 novembre 2024-10:50:06

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hal-01537638 , version 1 (12-06-2017)

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Citer

G. Geandier, D. Faurie, P. Renault, Christophe Le Bourlot, P. Djemia, et al.. X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection. EPJ Web of Conferences, 2010, 6, ⟨10.1051/epjconf/20100626008⟩. ⟨hal-01537638⟩

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