X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection
G. Geandier
(1)
,
D. Faurie
(2)
,
P. Renault
(3)
,
Christophe Le Bourlot
(2)
,
P. Djemia
(2)
,
O. Castelnau
(4)
,
S.M. Chérif
,
E. Le Bourhis
(1)
,
P. Goudeau
(1)
D. Faurie
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P. Renault
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Christophe Le Bourlot
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P. Djemia
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O. Castelnau
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S.M. Chérif
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