On the behavior of electrically stressed Ti/TiOx/Ti junctions fabricated by local anodic oxidation
Nicolas Guillaume
(1)
,
Etienne Puyoo
(1)
,
M. Le Berre
(1)
,
David Albertini
(2)
,
Nicolas Baboux
(1)
,
Céline Chevalier
(3)
,
Brice Gautier
(1)
,
Francis Calmon
(1)
,
Joëlle Gregoire
(4)
,
Khaled Ayadi
(4)
Nicolas Guillaume
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- ORCID : 0000-0002-5407-0325
Etienne Puyoo
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- PersonId : 20762
- IdHAL : etienne-puyoo
- ORCID : 0000-0003-0509-0837
- IdRef : 149980426
M. Le Berre
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- PersonId : 173582
- IdHAL : martineleberre
- ORCID : 0000-0003-4935-7951
- IdRef : 084065826
David Albertini
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- PersonId : 738192
- IdHAL : dalbertini
- IdRef : 25313577X
Nicolas Baboux
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- PersonId : 173550
- IdHAL : nicolas-baboux
- IdRef : 083282106
Céline Chevalier
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- PersonId : 170790
- IdHAL : celine-chevalier
- ORCID : 0009-0006-2719-6455
Brice Gautier
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- PersonId : 15263
- IdHAL : brice-gautier
- ORCID : 0000-0002-0705-9967
- IdRef : 098448617
Francis Calmon
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- PersonId : 20789
- IdHAL : francis-calmon
- ORCID : 0000-0001-5076-076X
- IdRef : 096255838